PCIe Gen4 SSD宽温智能测试系统

设备可同时支持128~256个PCIe 4.0（可向下兼容PCIe 3.0）固态硬盘在宽温下的并行测试，工作温度范围-60℃~150℃可调。系统支持Windows与Linux操作系统，采用开放式工单配置模式，允许用户自由组合测试条件，并集成智能温控指令，是一套操作灵活、功能全面的SSD可靠性测试设备。
PCIe Gen3 SSD宽温智能测试系统

设备是一款高集成度、高兼容性的消费级固态硬盘智能测试系统，可同时支持640个PCIe 3.0固态硬盘在宽温下的并行测试，工作温度范围-60℃~150℃可调。系统支持Windows与Linux操作系统，采用开放式工单配置模式，允许灵活组合测试条件与温控指令，实现高度定制化的测试流程。适用于消费级SSD生产与模组厂商，助力提升产品良率与品质一致性。
SATA Gen3 SSD 宽温智能测试系统

设备专为高密度、多形态固态硬盘测试设计，可同时支持288个SATA3.0固态硬盘在宽温条件下的并行测试，工作温度范围- 60℃~150℃。系统支持Windows与Linux操作系统，采用开放式工单配置模式，允许用户自由组合测试条件，并集成智能温控指令。通过网络交换机传输数据，实现一键式操作与网络化控制，大幅降低人工干预，为企业级固态硬盘在数据中心、服务器等关键场景的验证提供高效、可靠的智能化测试解决方案。
SATA Gen3+PCIe Gen4 SSD宽温智能测试系统

设备专为高密度、多形态固态硬盘测试设计，可同时支持192个SATA 3.0或96个PCIe 4.0固态硬盘在宽温下的并行测试，工作温度范围-60℃~150℃可调。系统支持Windows与Linux操作系统，采用开放式工单配置模式，允许用户自由组合测试条件，并集成智能温控指令。通过网络交换机传输数据，实现一键式操作与网络化控制，大幅降低人工干预，是一款高集成度、高兼容性的定制化固态硬盘智能测试设备。