eMMC智能测试系统

设备为eMMC芯片高密度测试平台，支持宽温筛选及单台512颗芯片并行测试。具备完整测试能力，包括性能（IOPS）测试、指定周期高低温循环读写、耐久性（Endurance）测试、数据保持（Data Retention）测试及电压拉偏（精度0.05V）等，支持自定义测试流程组合。适用于手持终端、嵌入式系统、汽车电子及国家级研究单位的质量检验与可靠性验证。
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