主要功能
闪存寿命预测
通过人工神经网络算法建模，快速实现同
类型闪存颗粒寿命的精准预测
等级划分
通过不同质量的颗粒，搭配差异化控制
器，对闪存质量进行分级
宽温筛选
在宽温环境下对闪存进行快速有效的筛
选，并进行可靠性等级划分
数据保持测试
实现闪存颗粒耐久性、数据保持测试等
测试流程
原始数据采集
采集芯片原始错误比特数、编程操作时间
擦除操作时间、实时电压、电流等数据
阈值电压分布
通过read retry操作测量闪存存储单元
阈值电压分布
读干扰
可以基于block进行多次read操作，检
测颗粒抗读干扰性能
定制化
内置多种测试pattern选项和细分命令，按
block选择等功能提供定制开发
技术优势

非破坏性测试

只消耗少量甚至单次PEcycle，测试完毕可当做 新颗粒继续使用

高精确度

全block测试覆盖，建立对应型号和批次颗粒的 寿命预测模型

可自动化测试

上位机实现自动运算输出等级结果，可配合自 动化设备实现自动分拣

快速筛选分类

基于芯片特性分析有效page抽样和pattern选 择，可以提高测试速度

标准测试服务
支持以下功能测试
实时功耗
误码率
坏块数
坏块容量(GB)
平均编程时间(uS)
剩余可用容量(GB)
平均擦除时间(uS)
高阶测试服务
支持以下功能测试
闪存质量等级划分
实际可擦写次数(PE）
擦除时间变化/PE次数
编程时间变化/页/PE
测试电压拉偏
设置测试范围（块间隔）
ECC设定
数据完整性测试
最大错误数/块
最大页面错误数变化/PE次数
闪存错误数变化绘图
读抗干扰
阈值电压拉偏
自定义Pattern
服务流程
STEP 1
提供测试需求
STEP 2
确认报价与排期
STEP 3
签订合同并付款
STEP 4
根据需求上线测试
STEP 5
交货并提供测试报告
电话咨询
027-65527152
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