数合泰基于多年半导体行业积淀，应用独有的闪存寿命预测IP技术，创新地将人工神经网络算法应用于NAND Flash颗粒测试技术中，在非破坏性的闪存测试方式下，实现了闪存的可靠性分析与寿命预测。同时依托核心AI测试方法结合硬件方案和数据库，完美解决目前闪存芯片测试不通用以及测试时间周期长等问题，为存储行业客户提供全面的产品解决方案和专业的测试服务，不仅可以满足工控类市场需求，也可为服务器、高端工业领域和研究所解决闪存芯片质量分级和测试验证的需求。 未来，数合泰将持续深化智能测试技术创新，通过构建覆盖全协议、全场景、全生命周期的存储产品验证体系，助力存储产业实现从研发验证到量产检测的全流程质量升级。